RE: Learn more about the characterization of materials, X-ray fluorescence technique "used to study semiconductor compounds
Muy estimado amigo @carloserp-2000. Con la técnica de FRX no se determinan fases cristalinas. Esta técnica le da composición en forma de elemento. Por ejemplo, si usted somete a molturado una muestra de cemento al punto de obtener un talco y lo mide por FRX, el resultado será un elemental donde le mostrará en forma de porcentajes de lo que está compuesta la muestra, por ejemplo calcio (Ca) en un 50 % ó silicio (Si) en un 30 %, entre lo más importantes. Esta información me sirve en la parte de DRX para realizar un semicuantitativo. Por decir algo, de ese 50 % de Ca el estará en forma Carbonato de Calcio, Óxido de Calcio o sulfato de calcio. En cuanto al Si, ese 30 % estará distribuido en cuarzo bajo, cuarzo alto, entre otros.
Otra cosa, con FRX no se determina sistemas cristalinos. Esto se hace con DRX. Recuerde que la realizar una toma de datos por DRX se obtiene un difractograma donde es posible identificar las fases cristalinas, realizar indexado para determinar los parámetros de red, el sistema cristalino y el grupo espacial, tamaño cristalino, estrés, entre otras cosas. FRX, sólo le da elemental.