RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4

marynes5 (53)in #stem-espanol • 6 years ago

Amigo, se aprecia el esfuerzo que haces por compartir tus conocimientos. Algunos tomamos de la comunidad para aplicarlo en nuestro trabajo. Saludos

6 years ago in #stem-espanol by marynes5 (53)

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cuarzo05 (51) 6 years ago

Saludos @marynes5, muchas gracias por su comentario. Cualquier duda o consulta sobre el tema estamos a la orden

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