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RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4

in #stem-espanol • 6 years ago

Muchas gracias a #stem-espanol, por la oportunidad que nos da de poder mostrar las cosas que hacemos. De igual forma, muchas gracias @iamphysical por su comentario. Claro, estoy presto a cualquier duda o cementario con respecto a este tema

6 years ago in #stem-espanol by
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